9月27日，第三届GMIF2024创新峰会将在深圳湾万丽酒店举办，本届峰会以“AI驱动，存储复苏”为主题，将围绕存储器市场复苏与AI新兴应用市场带动下的产业格局与趋势，分享前沿技术与最新产品，探讨产业链上下游如何协同创新，构建合作共赢的产业生态。

　　先进的测试算法与高性能测试设备是存储产业发展不可或缺的支撑。它们不仅决定了存储芯片能否满足当今数据密集型应用的需求，还直接影响到产品的良率与上市速度。优秀的测试算法能够准确识别芯片中的潜在缺陷，而高效的测试设备则能大幅提高生产效率，确保每一片存储芯片都能在性能和可靠性上达到最高标准。因此，半导体测试技术的进步对于整个存储产业的发展起着至关重要的作用。

　　态坦测试的首席技术官（CTO）徐永刚博士，将在即GMIF2024上带来题为《新趋势下的存储芯片老化测试》的主题演讲，全面解析当前半导体存储与测试市场的现状，并分享态坦测试在多个先进芯片测试设备领域的技术与战略布局。态坦测试一直致力于攻克先进ATE（自动测试设备）架构BI（Burn-In，老化测试）测试设备中的关键技术难题，如高速通信系统、复杂算法图形生成等。通过不懈努力，公司成功研发出了一系列高性能、高集成度且具有高性价比的存储BI测试设备解决方案，实现国产半导体设备技术的突破，满足日益复杂的存储芯片所需求的高速测试方案。

　　成都态坦测试科技有限公司成立于2023年，公司聚焦半号体(存储/SoC)测试核心领域，核心团队拥有10年以上的一线半号体巨头测试设备研发经验。公司致力于国产高端半导体测试设备的研发突破，产品在国内一线IDM厂商及设计公司实现量产交付。公司布局了存储芯片ATE测试机、BI老化测试机、SLT测试机、SSD模组测试PG电子官网装备和DDR模组测试装备等系列产品，涵盖量产及研发工程机，助力DRAM及NAND Fash领域测试装备的国产化突破，同时公司办在半导体测试关键材料及治具方面深入研究，能够为客户提供全方位的测试设备交付和维护服务。公司针对存储芯片到模组的生产测试，推出了国内首台高并测、高热负荷、高温度均匀性量产的Fash/DRAM BI测试机，性能达到国际一流水平;公司投产的业界首台SSD全自动化生产测试装备，获得FMS2023最具创新技术设备大奖;公司研发投产了国内首台LPDDR5 SLT测试机及国内首台闪存测试机，实现国产突破，并有效降低客户测试成本。

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