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青芯半导体科技(上海)有限公司申请用于测试流水线存储器读取时间的专利可实现不同类型多级流水线输出的存储器读取时间的测试-PG电子官网
青芯半导体科技(上海)有限公司申请用于测试流水线存储器读取时间的专利可实现不同类型多级流水线输出的存储器读取时间的测试
栏目:官网新闻 发布时间:2024-11-17
 金融界2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,青芯半导体科技(上海)有限公司申请一项名为“一种用于测试流水线存储器读取时间的电路、芯片及方法”的专利,公开号 CN 118942525 A,申请日期为 2024 年 7 月。  专利摘要显示,本发明公开一种用于测试流水线存储器读取时间的电路,其包括判断模块及输入模块,其中判断模块用于判断流水线存储器的类型,以及输入模块连接至流水线存储

  金融界2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,青芯半导体科技(上海)有限公司申请一项名为“一种用于测试流水线存储器读取时间的电路、芯片及方法”的专利,公开号 CN 118942525 A,申请日期为 2024 年 7 月。

  专利摘要显示,本发明公开一种用于测试流水线存储器读取时间的电路,其包括判断模块及输入模块,其中判断模块用于判断流水线存储器的类型,以及输入模块连接至流水线存储器的被测地址位,且包括多个选择器,用于基于流水线存储器的类型、测试阶段确定流水线存储器的待测试位的输入。该电路可根据流水线存储器的类型确定测试输入信号,以实现不同类型多级流水线输出的存储器的读取时间的测试,同时,其还可PG电子网站以用于测试多级流水线输出的三态寻址存储器的搜索时间。

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